Diod_Test

Управление тестером

Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 StartTest. Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах:

• №0 PositiveTest
• №1 NegativeTest Если включены оба, то будет тест перехода от прямого подлключения к обратному.

Настройка таймингов

Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4:

• TimeForPositiveDC - миллисекундная задержка для положительного напряжения (только миллисекунды_
• TimeBeforeTest - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или тики for())
• TimeBeforePeak - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или тики for())
• TimeBeforeDisconnect - задержка перед выключением питания (миллисекундная или тики for())

В коилах модбас №16-18, можно выставить флаги - использовать миллисекундную или пустой цикл for() для соответствующей задержки:

• msTimeBeforeTest_enable
• msTimeBeforePeak_enable
• msTimeBeforeDisconnect_enable

Настройка АЦП

Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9:

• Adc_PulseWidth - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
• Adc_PulseSign - полярность импульса
• Adc_CalibrValue - калибровочное значение ацп
• Adc_ZeroValue - нулевое значение ацп
• Adc_U_Calibr - калибровочное напряжение ацп

Из этого рассчитывается шаг АЦП: Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)

Тестирование

Тест в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower)

• ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
• включается АЦП в континуес режиме
• подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc. и все это время считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего.
• после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП

По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода

Тест в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower)

• ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
• включается АЦП в дма режиме
• ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
• подключается отрицательное напряжение на заданное время ticks_before_disconnect, и отключается
• после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе

По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода

Тест перехода из прямого подключении в обратное (TESTER_TestDiode_PosNegPower)

• ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
• подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc
• включается АЦП в дма режиме
• ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
• переключается положительное напряжение на отрицательное на заданное время ticks_before_disconnect
• дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе

По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода и скачок при обратном

Внутренняя настройка

В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (TESTER_Set_Default_Settings) После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (TESTER_UpdateSettings). Она вызывается перед каждым тестом.

tester_config.h

Содержит дефолтные настройки для таймингов (TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG):

• количество тиков и дефайн для включения миллисекундной задержки.

для светодиода и кнопки (TESTER_INTERFACE_CONFIG):

• состояния пина для включения и выключения светодиода
• порт и пин светодиода
• частоты моргания для разных режимов работы
• состояния пина при нажатой и отжатой кнопки
• порт и пин кнопки
• задержка для выжидания дребезга

для управления ключами (TESTER_ADC_CONFIG):

• USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
• ALL_SW_USE_SAME_PORT - используется один пор для всех ключей. Если не используется HAL, то позволяет переключить ключи на обоих источникам синхронно
• состояния пина для подключения и отключения питания
• порт и пины для ключей положительного питания (порт общий для двух ключей)
• порт и пины для ключей положительного питания

для АЦП (TESTER_ADC_CONFIG):

• размер dma буффера (ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE)
• калибровочное напряжение АЦП (ADC_U_CALIBR)
• значение АЦП при калибровочном напряжении (ADC_VALUE_CALIBR)
• значение АЦП при нулевом напряжении (ADC_VALUE_ZERO)
• таймаут на чтение АЦП (ADC_READ_TIMEOUT_MS)
• ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH)