91 lines
7.3 KiB
Markdown
91 lines
7.3 KiB
Markdown
# Diod_Test
|
||
|
||
## Управление тестером
|
||
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 StartTest.
|
||
Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах:
|
||
- №0 PositiveTest
|
||
- №1 NegativeTest
|
||
Если включены оба, то будет тест перехода от прямого подлключения к обратному.
|
||
|
||
## Настройка таймингов
|
||
Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4:
|
||
- TimeForPositiveDC - миллисекундная задержка для положительного напряжения (только миллисекунды_
|
||
- TimeBeforeTest - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или тики for())
|
||
- TimeBeforePeak - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или тики for())
|
||
- TimeBeforeDisconnect - задержка перед выключением питания (миллисекундная или тики for())
|
||
|
||
В коилах модбас №16-18, можно выставить флаги - использовать миллисекундную или пустой цикл for() для соответствующей задержки:
|
||
- msTimeBeforeTest_enable
|
||
- msTimeBeforePeak_enable
|
||
- msTimeBeforeDisconnect_enable
|
||
|
||
## Настройка АЦП
|
||
Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9:
|
||
- Adc_PulseWidth - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
|
||
- Adc_PulseSign - полярность импульса
|
||
- Adc_CalibrValue - калибровочное значение ацп
|
||
- Adc_ZeroValue - нулевое значение ацп
|
||
- Adc_U_Calibr - калибровочное напряжение ацп
|
||
|
||
Из этого рассчитывается шаг АЦП: Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)
|
||
|
||
|
||
# Тестирование
|
||
## Тест в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower)
|
||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||
- включается АЦП в континуес режиме
|
||
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc. и все это время считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего.
|
||
- после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП
|
||
|
||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода
|
||
|
||
## Тест в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower)
|
||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||
- включается АЦП в дма режиме
|
||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
|
||
- подключается отрицательное напряжение на заданное время ticks_before_disconnect, и отключается
|
||
- после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
|
||
|
||
По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода
|
||
|
||
## Тест перехода из прямого подключении в обратное (TESTER_TestDiode_PosNegPower)
|
||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc
|
||
- включается АЦП в дма режиме
|
||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
|
||
- переключается положительное напряжение на отрицательное на заданное время ticks_before_disconnect
|
||
- дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
|
||
|
||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода и скачок при обратном
|
||
|
||
|
||
|
||
# Внутренняя настройка
|
||
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (TESTER_Set_Default_Settings)
|
||
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (TESTER_UpdateSettings). Она вызывается перед каждым тестом.
|
||
## tester_config.h
|
||
Содержит дефолтные настройки для таймингов (TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG):
|
||
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной задержки.
|
||
|
||
для светодиода и кнопки (TESTER_INTERFACE_CONFIG):
|
||
- состояния пина для включения и выключения светодиода
|
||
- порт и пин светодиода
|
||
- частоты моргания для разных режимов работы
|
||
- состояния пина при нажатой и отжатой кнопки
|
||
- порт и пин кнопки
|
||
- задержка для выжидания дребезга
|
||
|
||
для управления ключами (TESTER_ADC_CONFIG):
|
||
- USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
|
||
- ALL_SW_USE_SAME_PORT - используется один пор для всех ключей. Если не используется HAL, то позволяет переключить ключи на обоих источникам синхронно
|
||
- состояния пина для подключения и отключения питания
|
||
- порт и пины для ключей положительного питания (порт общий для двух ключей)
|
||
- порт и пины для ключей положительного питания
|
||
|
||
для АЦП (TESTER_ADC_CONFIG):
|
||
- размер dma буффера (ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE)
|
||
- калибровочное напряжение АЦП (ADC_U_CALIBR)
|
||
- значение АЦП при калибровочном напряжении (ADC_VALUE_CALIBR)
|
||
- значение АЦП при нулевом напряжении (ADC_VALUE_ZERO)
|
||
- таймаут на чтение АЦП (ADC_READ_TIMEOUT_MS)
|
||
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH) |