Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

Добавлены коилы для включения отдельных ключей. Протестирован modbus - работает.

Browse Source 
Чуть оптимизированы функции переключения ключей: теперь ifdef для использования HAL функций не в test_func.c а в test_func.h
This commit is contained in:
Razvalyaev
2024-12-24 11:20:19 +03:00
parent be64bbf5d2
commit 0c06d07f4e
11 changed files with 152 additions and 144 deletions
Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

2
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@@ -106,7 +106,7 @@
@{
*/
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс)
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (160 нс)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
#define PHASE_CONNECT 1 ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина

119
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
View File

@@ -21,6 +21,8 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
*/
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@@ -48,8 +50,7 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
}
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Выключение континиус АЦП */
HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc);
@@ -64,6 +65,8 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
*/
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@@ -85,8 +88,7 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@@ -102,6 +104,8 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
*/
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@@ -125,8 +129,7 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@@ -136,37 +139,45 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
htest->DiodeReversePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
}
/**
* @brief Тестирование одного ключа
*/
void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag)
{
if(flag)
{
TESTER_PhaseSwSingle_Set(SwPort, SwPin);
}
else
{
TESTER_PhaseSwSingle_Reset(SwPort, SwPin);
}
}
/**
* @brief Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_CONNECT == 1)
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Set(PhaseSw);
}
/**
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Reset(PhaseSw);
}
/**
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB)
{
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseB);
}
/**
* @brief Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
@@ -174,68 +185,40 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
{
/* Если дедтайм меньше 100 мкс, то сначала запускаем АЦП а потом дедтаймим */
/* Потому что эта функция по длительности порядка 30 мкс, поэтому дедтайм получается не может быть меньше 30 мкс*/
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
if(deadtime->msdelay == 0)
{
if(deadtime->ticks < 100)
{
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
}
}
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16));
#elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin));
#endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT
#else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_DISCONNECT == 1
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_DISCONNECT
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1)
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 0
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = (SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Set(SwPhaseB);
}
/**
* @brief Формирование задержки (в микро или миллисекундная)
*/

37
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
View File

@@ -17,7 +17,33 @@
/**
* @brief Хендл микросекундного таймера
*/
#define hmcstim htim3
#define hmcstim htim3
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT)
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_CONNECT)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_DISCONNECT)
#else //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin) << 16
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
#elif (PHASE_CONNECT == 0) && (PHASE_DISCONNECT == 1)
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | _sw_->SwLO_Pin) << 16
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
#endif //POWER_CONNECT
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
extern TIM_HandleTypeDef htim3;
/**
@@ -85,10 +111,15 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тестирование одного ключа */
void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag);
/* Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB);
/* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime);
/* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */

18
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@@ -49,6 +49,19 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
if(tester->delay_en)
msDelay(tester->delay);
/* ПОДТЯГИВАНИЕ СОСТОЯНИЯ КЛЮЧЕЙ С МОДБАС */
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseForwardHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseForwardLoTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseReverseHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseReverseLoTest);
/* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_reverse)
{
@@ -106,14 +119,13 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
return;
/* считывание режима тестера с модбас */
tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils);
tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils) & 0x3;
/* если кнопка нажата или пришла соответствующая комманда модбас */
if(TESTER_ReadSwichStart(&tester->SwStart) || tester->mbdata->Coils.StartTest)
{
tester->mbdata->Coils.StartTest = 0;
/* Обновление настроек тестера */
TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata);
switch(tester->mode)