Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

Добавлены коилы для включения отдельных ключей. Протестирован modbus - работает.

Browse Source 
Чуть оптимизированы функции переключения ключей: теперь ifdef для использования HAL функций не в test_func.c а в test_func.h
This commit is contained in:
Razvalyaev 2024-12-24 11:20:19 +03:00
parent be64bbf5d2
commit 0c06d07f4e
11 changed files with 152 additions and 144 deletions
Show Stats Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

22
diode_tester/Core/Interfaces/interface_config.h
View File

@ -18,18 +18,18 @@
@{
*/
#define MODBUS_UART_NUMB 3 ///< Номер используемого UART, по нему выставляется дефайн USED_MB_UART = USARTx
//#define MODBUS_UART_NUMB 1 ///< Номер используемого UART, по нему выставляется дефайн USED_MB_UART = USARTx
#define MODBUS_SPEED 115200 ///< Скорость UART для модбас
#define MODBUS_GPIOX GPIOB ///< Порт для UART RX/TX
#define MODBUS_GPIO_PIN_RX GPIO_PIN_11 ///< Пин для UART RX
#define MODBUS_GPIO_PIN_TX GPIO_PIN_10 ///< Пин для UART TX
//#define MODBUS_GPIOX GPIOA ///< Порт для UART RX/TX
//#define MODBUS_GPIO_PIN_RX GPIO_PIN_9 ///< Пин для UART RX
//#define MODBUS_GPIO_PIN_TX GPIO_PIN_10 ///< Пин для UART TX
#define MODBUS_TIM_NUMB 7 ///< number of used tim, accord to this define sets define USED_MB_TIM = TIMx
#define MODBUS_TIM_AHB_FREQ 72 ///< TIM AHB Bus Freq
//#define MODBUS_TIM_NUMB 2 ///< number of used tim, accord to this define sets define USED_MB_TIM = TIMx
//#define MODBUS_TIM_AHB_FREQ 72 ///< TIM AHB Bus Freq
// defines for modbus behaviour
#define MODBUS_DEVICE_ID 1 ///< девайс текущего устройства
#define MODBUS_MAX_TIMEOUT 5000 ///< максимальнйы тайтаут MB is ms
//#define MODBUS_MAX_TIMEOUT 500 ///< максимальнйы тайтаут MB is ms
#define RS_UART_Init MX_USART1_UART_Init
@ -38,8 +38,12 @@
#define RS_TIM_DeInit HAL_TIM_Base_MspDeInit
#define rs_huart huart1
#define rs_htim htim2
/**
* @brief Поменять комманды 0x03 и 0x04 местами (для LabView терминалки от двигателей)
* @details Терминалка от двигателей использует для чтения регистров комманду R_HOLD_REGS вместо R_IN_REGS
* Поэтому чтобы считывать Input Regs - надо поменять их местами.
*/
#define MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
/////////////////////////////////////////////////////////////////////
/////////////////////////---CALC DEFINES---//////////////////////////

61
diode_tester/Core/Interfaces/modbus.c
View File

@ -126,7 +126,6 @@ void MODBUS_FirstInit(void)
#endif
// set up modbus: MB_RX_Size_NotConst and Timeout enable
hmodbus1.ID = MODBUS_DEVICE_ID;
hmodbus1.sRS_Timeout = MODBUS_MAX_TIMEOUT;
hmodbus1.sRS_Mode = SLAVE_ALWAYS_WAIT;
hmodbus1.sRS_RX_Size_Mode = RS_RX_Size_NotConst;
@ -879,54 +878,18 @@ RS_StatusTypeDef RS_Define_Size_of_RX_Message(RS_HandleTypeDef *hmodbus, uint32_
//-------------------------------------------------------------------
//-------------------------HANDLERS FUNCTION-------------------------
#if (MODBUS_UART_NUMB == 1) // choose handler for UART
void USART1_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_UART_NUMB == 2)
void USART2_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_UART_NUMB == 3)
void USART3_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_UART_NUMB == 4)
void USART4_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_UART_NUMB == 5)
void USART5_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_UART_NUMB == 6)
void USART6_IRQHandler(void)
#endif
{
Trace_MB_UART_Enter();
RS_UART_Handler(&hmodbus1);
Trace_MB_UART_Exit();
}
#if (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 10) // choose handler for TIM
void TIM1_UP_TIM10_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 2)
void TIM2_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 3)
void TIM3_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 4)
void TIM4_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 5)
void TIM5_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 6)
void TIM6_DAC_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 7)
void TIM7_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 13)
void TIM8_UP_TIM13_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 9)
void TIM1_BRK_TIM9_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 11)
void TIM1_TRG_COM_TIM11_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 12)
void TIM8_BRK_TIM12_IRQHandler(void)
#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 14)
void TIM8_TRG_COM_TIM14_IRQHandler(void)
#endif
{
Trace_MB_TIM_Enter();
RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
Trace_MB_TIM_Exit();
}
//void USART1_IRQHandler(void)
//{
// Trace_MB_UART_Enter();
// RS_UART_Handler(&hmodbus1);
// Trace_MB_UART_Exit();
//}
//void TIM1_UP_TIM10_IRQHandler(void)
//{
// Trace_MB_TIM_Enter();
// RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
// Trace_MB_TIM_Exit();
//}
//-------------------------HANDLERS FUNCTION-------------------------
//-------------------------------------------------------------------

2
diode_tester/Core/Interfaces/modbus.h
View File

@ -72,7 +72,7 @@ typedef enum //MB_FunctonTypeDef
// reading
MB_R_COILS = 0x01, ///< Чтение битовых ячеек
MB_R_DISC_IN = 0x02, ///< Чтение дискретных входов
#ifndef TESTER_MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
#ifndef MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
MB_R_HOLD_REGS = 0x03, ///< Чтение входных регистров
MB_R_IN_REGS = 0x04, ///< Чтение регистров хранения
#else

16
diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
View File

@ -63,7 +63,7 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
// DEFINES FOR INPUT REGISTERS ARRAYS
#define R_MEASURED_ADDR 0
#define R_MEASURED_QNT 1
#define R_MEASURED_QNT 2
// DEFINES FOR HOLDING REGISTERS ARRAYS
#define R_SETTINGS_ADDR 0
@ -100,22 +100,28 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
*/
typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
{
/* reg 1 */
/* reg 1 - control */
unsigned ForwardTest:1;
unsigned ReverseTest:1;
unsigned StartTest:1;
unsigned reserved:13;
unsigned PhaseForwardHiTest:1;
unsigned PhaseForwardLoTest:1;
unsigned PhaseReverseHiTest:1;
unsigned PhaseReverseLoTest:1;
/* reg 2 */
unsigned reserved:9;
/* reg 2 - settings */
unsigned msTimeBeforeTest_enable:1;
unsigned msTimeDeadtime_enable:1;
unsigned msTimeBeforePeak_enable:1;
unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1;
unsigned reserved2:11;
}MB_DataCoilsTypeDef;
// DEFINES FOR COIL ARRAYS
#define C_CONTROL_ADDR 0
#define C_CONTROL_QNT 3
#define C_CONTROL_QNT 7
#define C_SETTINGS_ADDR 16
#define C_SETTINGS_QNT 3

1
diode_tester/Core/Src/main.c
View File

@ -113,7 +113,6 @@ int main(void)
{
TESTER_main_delay(&TESTER);
TESTER_main_while(&TESTER);
HAL_UART_Transmit(&huart1, (uint8_t *)"axaxa", 5, 100);
/* USER CODE END WHILE */

10
diode_tester/Core/Src/stm32f1xx_it.c
View File

@ -223,7 +223,10 @@ void DMA1_Channel1_IRQHandler(void)
void TIM2_IRQHandler(void)
{
/* USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 0 */
Trace_MB_TIM_Enter();
RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
Trace_MB_TIM_Exit();
return;
/* USER CODE END TIM2_IRQn 0 */
HAL_TIM_IRQHandler(&htim2);
/* USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 1 */
@ -251,7 +254,10 @@ void TIM3_IRQHandler(void)
void USART1_IRQHandler(void)
{
/* USER CODE BEGIN USART1_IRQn 0 */
Trace_MB_UART_Enter();
RS_UART_Handler(&hmodbus1);
Trace_MB_UART_Exit();
return;
/* USER CODE END USART1_IRQn 0 */
HAL_UART_IRQHandler(&huart1);
/* USER CODE BEGIN USART1_IRQn 1 */

2
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@ -106,7 +106,7 @@
@{
*/
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс)
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (160 нс)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
#define PHASE_CONNECT 1 ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина

119
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
View File

@ -21,6 +21,8 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
*/
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@ -48,8 +50,7 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
}
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Выключение континиус АЦП */
HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc);
@ -64,6 +65,8 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
*/
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@ -85,8 +88,7 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@ -102,6 +104,8 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
*/
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
@ -125,8 +129,7 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@ -136,37 +139,45 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
htest->DiodeReversePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
}
/**
* @brief Тестирование одного ключа
*/
void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag)
{
if(flag)
{
TESTER_PhaseSwSingle_Set(SwPort, SwPin);
}
else
{
TESTER_PhaseSwSingle_Reset(SwPort, SwPin);
}
}
/**
* @brief Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_CONNECT == 1)
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Set(PhaseSw);
}
/**
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Reset(PhaseSw);
}
/**
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB)
{
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseB);
}
/**
* @brief Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
@ -174,68 +185,40 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
{
/* Если дедтайм меньше 100 мкс, то сначала запускаем АЦП а потом дедтаймим */
/* Потому что эта функция по длительности порядка 30 мкс, поэтому дедтайм получается не может быть меньше 30 мкс*/
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
if(deadtime->msdelay == 0)
{
if(deadtime->ticks < 100)
{
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
}
}
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16));
#elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin));
#endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT
#else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_DISCONNECT == 1
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_DISCONNECT
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1)
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 0
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = (SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
TESTER_PhaseSw_Set(SwPhaseB);
}
/**
* @brief Формирование задержки (в микро или миллисекундная)
*/

37
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
View File

@ -17,7 +17,33 @@
/**
* @brief Хендл микросекундного таймера
*/
#define hmcstim htim3
#define hmcstim htim3
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT)
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_CONNECT)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_DISCONNECT)
#else //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin) << 16
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
#elif (PHASE_CONNECT == 0) && (PHASE_DISCONNECT == 1)
#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | _sw_->SwLO_Pin) << 16
#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_) (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_) (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
#endif //POWER_CONNECT
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
extern TIM_HandleTypeDef htim3;
/**
@ -85,10 +111,15 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тестирование одного ключа */
void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag);
/* Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB);
/* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime);
/* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */

18
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@ -49,6 +49,19 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
if(tester->delay_en)
msDelay(tester->delay);
/* ПОДТЯГИВАНИЕ СОСТОЯНИЯ КЛЮЧЕЙ С МОДБАС */
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseForwardHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseForwardLoTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseReverseHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin,
tester->mbdata->Coils.PhaseReverseLoTest);
/* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_reverse)
{
@ -106,14 +119,13 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
return;
/* считывание режима тестера с модбас */
tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils);
tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils) & 0x3;
/* если кнопка нажата или пришла соответствующая комманда модбас */
if(TESTER_ReadSwichStart(&tester->SwStart) || tester->mbdata->Coils.StartTest)
{
tester->mbdata->Coils.StartTest = 0;
/* Обновление настроек тестера */
TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata);
switch(tester->mode)

8
diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
View File

@ -265,6 +265,10 @@
<Name>System Viewer\ADC1</Name>
<WinId>35903</WinId>
</Entry>
<Entry>
<Name>System Viewer\AFIO</Name>
<WinId>35905</WinId>
</Entry>
<Entry>
<Name>System Viewer\DMA1</Name>
<WinId>35902</WinId>
@ -278,8 +282,8 @@
<WinId>35901</WinId>
</Entry>
<Entry>
<Name>System Viewer\GPIOC</Name>
<WinId>35905</WinId>
<Name>System Viewer\USART1</Name>
<WinId>35900</WinId>
</Entry>
</SystemViewers>
<DebugDescription>