Diod_Test/diode_tester
Razvalyaev 15774d179b #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП
Теперь это считается в TESTER_Reconnect_TwoPhases:
Если дедтайм меньше 100мкс, сначала начинает считывание АЦП, а потом переключаем ключи. Потому что функция запуска АЦП занимает 30мкс и в таком случае она будет сильно увеличивать заданный дедтайм.
Иначе сначала диод отключается от всего, выжидается дедтайм, потом запускается АЦП и включается в обратном направлении. В таком порядке потому что запуск АЦП должен быть рядом с включем диода в обратном направлении, чтобы словить пик в буффере АЦП
2024-12-23 15:30:35 +03:00
..
Core #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
Drivers Добавлены библиотеки adc, modbus (его надо проверить) 2024-12-17 18:24:41 +03:00
MDK-ARM #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
.mxproject Добавлены библиотеки adc, modbus (его надо проверить) 2024-12-17 18:24:41 +03:00
diode_tester.ioc Задержка в тиках for() заменена на микросекундную по таймеру TIM3 2024-12-23 13:42:01 +03:00