Diod_Test/diode_tester/Core/Tester_main
Razvalyaev 15774d179b #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП
Теперь это считается в TESTER_Reconnect_TwoPhases:
Если дедтайм меньше 100мкс, сначала начинает считывание АЦП, а потом переключаем ключи. Потому что функция запуска АЦП занимает 30мкс и в таком случае она будет сильно увеличивать заданный дедтайм.
Иначе сначала диод отключается от всего, выжидается дедтайм, потом запускается АЦП и включается в обратном направлении. В таком порядке потому что запуск АЦП должен быть рядом с включем диода в обратном направлении, чтобы словить пик в буффере АЦП
2024-12-23 15:30:35 +03:00
..
tester_adc_func.c #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_adc_func.h #3 Настройки перенесены в модбас, все подтягивается оттуда 2024-12-19 17:25:03 +03:00
tester_config.h #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_func.c #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_func.h переименована переменная для хранения обратного скачка напряжения 2024-12-23 14:16:33 +03:00
tester_interface_func.c #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_interface_func.h #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_main.c #3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП 2024-12-23 15:30:35 +03:00
tester_main.h Улучшены названия переменных, добавлена настройка дедтайма (в мс или тиках for()) 2024-12-23 12:52:11 +03:00