From f77838e41eaeacd29a7cc39be8e072c259afb308 Mon Sep 17 00:00:00 2001 From: Coal56AB Date: Thu, 19 Dec 2024 18:57:05 +0300 Subject: [PATCH] =?UTF-8?q?=D0=97=D0=B0=D0=B3=D0=BE=D1=82=D0=BE=D0=B2?= =?UTF-8?q?=D0=BA=D0=B0=20=D0=B4=D0=BB=D1=8F=20readme?= MIME-Version: 1.0 Content-Type: text/plain; charset=UTF-8 Content-Transfer-Encoding: 8bit --- README.md | 89 +++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++++ 1 file changed, 89 insertions(+) diff --git a/README.md b/README.md index f03d459..6be9774 100644 --- a/README.md +++ b/README.md @@ -1,2 +1,91 @@ # Diod_Test +## Управление тестером +Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 StartTest. +Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах: +- №0 PositiveTest +- №1 NegativeTest +Если включены оба, то будет тест перехода от прямого подлключения к обратному. + +## Настройка таймингов +Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4: + - TimeForPositiveDC - миллисекундная задержка для положительного напряжения (только миллисекунды_ + - TimeBeforeTest - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или тики for()) + - TimeBeforePeak - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или тики for()) + - TimeBeforeDisconnect - задержка перед выключением питания (миллисекундная или тики for()) + +В коилах модбас №16-18, можно выставить флаги - использовать миллисекундную или пустой цикл for() для соответствующей задержки: + - msTimeBeforeTest_enable + - msTimeBeforePeak_enable + - msTimeBeforeDisconnect_enable + +## Настройка АЦП +Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9: + - Adc_PulseWidth - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп + - Adc_PulseSign - полярность импульса + - Adc_CalibrValue - калибровочное значение ацп + - Adc_ZeroValue - нулевое значение ацп + - Adc_U_Calibr - калибровочное напряжение ацп + +Из этого рассчитывается шаг АЦП: Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue) + + +# Тестирование +## Тест в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower) +- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test +- включается АЦП в континуес режиме +- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc. и все это время считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего. +- после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП + +По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода + +## Тест в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower) +- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test +- включается АЦП в дма режиме +- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak +- подключается отрицательное напряжение на заданное время ticks_before_disconnect, и отключается +- после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе + +По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода + +## Тест перехода из прямого подключении в обратное (TESTER_TestDiode_PosNegPower) +- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test +- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc +- включается АЦП в дма режиме +- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak +- переключается положительное напряжение на отрицательное на заданное время ticks_before_disconnect +- дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе + +По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода и скачок при обратном + + + +# Внутренняя настройка +В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (TESTER_Set_Default_Settings) +После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (TESTER_UpdateSettings). Она вызывается перед каждым тестом. +## tester_config.h +Содержит дефолтные настройки для таймингов (TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG): +- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной задержки. + +для светодиода и кнопки (TESTER_INTERFACE_CONFIG): +- состояния пина для включения и выключения светодиода +- порт и пин светодиода +- частоты моргания для разных режимов работы +- состояния пина при нажатой и отжатой кнопки +- порт и пин кнопки +- задержка для выжидания дребезга + +для управления ключами (TESTER_ADC_CONFIG): +- USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее +- ALL_SW_USE_SAME_PORT - используется один пор для всех ключей. Если не используется HAL, то позволяет переключить ключи на обоих источникам синхронно +- состояния пина для подключения и отключения питания +- порт и пины для ключей положительного питания (порт общий для двух ключей) +- порт и пины для ключей положительного питания + +для АЦП (TESTER_ADC_CONFIG): +- размер dma буффера (ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE) +- калибровочное напряжение АЦП (ADC_U_CALIBR) +- значение АЦП при калибровочном напряжении (ADC_VALUE_CALIBR) +- значение АЦП при нулевом напряжении (ADC_VALUE_ZERO) +- таймаут на чтение АЦП (ADC_READ_TIMEOUT_MS) +- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH) \ No newline at end of file