Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

Задержка в тиках for() заменена на микросекундную по таймеру TIM3

Browse Source 
И соответственно обновлены регистры модбас
This commit is contained in:
Razvalyaev 2024-12-23 13:42:01 +03:00
parent ae2887acfe
commit b0c9cb058c
7 changed files with 69 additions and 41 deletions
Show Stats Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

4
diode_tester/Core/Src/tim.c
View File

@ -82,9 +82,9 @@ void MX_TIM3_Init(void)
/* USER CODE END TIM3_Init 1 */
htim3.Instance = TIM3;
htim3.Init.Prescaler = 0;
htim3.Init.Prescaler = 72-1;
htim3.Init.CounterMode = TIM_COUNTERMODE_UP;
htim3.Init.Period = 8999;
htim3.Init.Period = 65535;
htim3.Init.ClockDivision = TIM_CLOCKDIVISION_DIV1;
htim3.Init.AutoReloadPreload = TIM_AUTORELOAD_PRELOAD_DISABLE;
if (HAL_TIM_Base_Init(&htim3) != HAL_OK)

14
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@ -27,14 +27,14 @@
/**
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
*/
#define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
@ -43,19 +43,19 @@
* @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП.
*
* Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @note Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП.
* Поэтому желательно только тики for() (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
* Поэтому желательно только микросекундная (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK(0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK
/**
* @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT (0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT
/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
* @}

53
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
View File

@ -22,7 +22,7 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
/* Включение континиус АЦП */
@ -61,20 +61,20 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
/* Обратное включение диода */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
/* Обратное включение на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
@ -95,7 +95,7 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
/* Прямое включение диода */
@ -106,17 +106,11 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak);
/* Переход из прямого включения в обратное */
TESTER_Reconnect_TwoPhases(&htest->SwPhaseForward, &htest->SwPhaseReverse, &htest->SwTimings.ticks_deadtime);
/* Обратное включение на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
@ -171,17 +165,28 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime);
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16));
#elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin));
#endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT
#else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
@ -190,7 +195,12 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
#endif //PHASE_DISCONNECT
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime);
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1)
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
@ -202,15 +212,22 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
}
/**
* @brief Формирование задержки (в тиках или миллисекундная)
* @brief Формирование задержки (в микро или миллисекундная)
*/
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay)
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim)
{
/* если миллисекундная задержка выключена */
if(tickdelay->msdelay == 0)
{
/* Задержка, в тиках */
for(int i = 0; i < tickdelay->ticks; i++);
htim->Instance->CNT = 1;
uint32_t tickstart = HAL_GetTick();
/* Задержка, в мкс */
while(htim->Instance->CNT < tickdelay->ticks)
{
/* Если прошло уже больше секунды, а микросекундная задержка не закончилась - возврат */
if(HAL_GetTick() - tickstart > 1000)
return;
}
}
/* если миллисекундная задержка включена */
else

17
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
View File

@ -14,6 +14,11 @@
#include "tester_adc_func.h"
#include "tester_interface_func.h"
/**
* @brief Хендл микросекундного таймера
*/
#define hmcstim htim3
extern TIM_HandleTypeDef htim3;
/**
* @brief Структура для пинов, которые отвечают за ключи, которые подключают фазы
@ -41,10 +46,10 @@ typedef struct
typedef struct
{
uint32_t msticks_for_forward; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_Forward
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_deadtime; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_expected_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением фаз (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_deadtime; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_expected_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением фаз (мс или мкс)
}TESTER_SwitchTimingsTypeDef;
/**
@ -86,7 +91,7 @@ void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
/* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime);
/* Формирование задержки (в тиках или миллисекундная) */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay);
/* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim);
#endif //_TESTER_FUNC_H_

13
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@ -36,6 +36,7 @@ void TESTER_pre_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
RS_Receive_IT(tester->hmodbus, &MODBUS_MSG);
tester->leds.LED1.period = LED_BLINK_AS_ON;
tester->f.flag_init_done = 1;
HAL_TIM_Base_Start(&hmcstim);
}
@ -169,14 +170,14 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
tester->mbdata->Coils.ReverseTest = 1;
/* Настройка пинов для прямого включения */
tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASE_REVERSE_Port;
tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin;
tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASE_REVERSE_Port;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin;
/* Настройка пинов для обратного включения */
tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASE_FORWARD_Port;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin;
tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASE_FORWARD_Port;
tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin;
/* Настройка пинов для кнопки старта */

5
diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
View File

@ -207,6 +207,11 @@
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>val_sum,0x0A</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>5</count>
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
</Ww>
</WatchWindow2>
<Tracepoint>
<THDelay>0</THDelay>

2
diode_tester/diode_tester.ioc
View File

@ -158,7 +158,7 @@ RCC.VCOOutput2Freq_Value=8000000
SH.ADCx_IN0.0=ADC1_IN0,IN0
SH.ADCx_IN0.ConfNb=1
TIM3.IPParameters=Period,Prescaler,TIM_MasterOutputTrigger
TIM3.Period=10000
TIM3.Period=65535
TIM3.Prescaler=72-1
TIM3.TIM_MasterOutputTrigger=TIM_TRGO_UPDATE
USART1.IPParameters=VirtualMode