Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

в мб дату добавлены дефолтные значения + minor fixes

Browse Source
This commit is contained in:
Razvalyaev
2024-12-24 14:45:40 +03:00
parent eaa8079e99
commit 1830087d6e
5 changed files with 29 additions and 10 deletions
Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

2
diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c
View File

@@ -86,7 +86,7 @@ void TESTER_ADC_UpdateSettings(TESTER_ADCTypeDef *adc, MB_DataStructureTypeDef *
adc->chAdc.s.expected_pulse_sign = mbdata->HoldRegs.Adc_PulseSign;
adc->chAdc.s.pulse_width = mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth;
adc->chAdc.s.U_step = (float)mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr/(adc->chAdc.s.ADC_calibr - adc->chAdc.s.ADC_zero);
adc->chAdc.s.U_step = ((float)mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr/1000)/(adc->chAdc.s.ADC_calibr - adc->chAdc.s.ADC_zero);
}
HAL_StatusTypeDef ADC_DMA_StartRead(TESTER_ADCTypeDef *adc)

16
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@@ -25,12 +25,6 @@
*/
#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000
/**
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
*/
#define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
@@ -39,6 +33,13 @@
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
/**
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
*/
#define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП.
@@ -135,6 +136,8 @@
* @brief Конфигурации для АЦП
@{
*/
#define TESTER_ADC_PULSE_EXPETCED_WIDTH 4 ///< Предполагаемая длительность пика в отчетах ацп
#define TESTER_ADC_PULSE_SIGN 0 ///< Полярность импульса 0 - положительная, 1 - отрицательая
#define ADC_BUFF_SIZE (200) ///< Размер буфера АЦП
#define ADC_DMA_BUFF_SIZE (ADC_BUFF_SIZE) ///< Размер буфера ДМА (1 канал)
@@ -145,7 +148,6 @@
#define ADC_READ_TIMEOUT_MS 20 ///< Таймаут на ожидание разрядки конденсатора
#define TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH 4 ///< Предполагаемая длительность пика в отчетах ацп
/** TESTER_ADC_CONFIG
* @}

2
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@@ -220,7 +220,7 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
/* Настройка АЦП */
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth = TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH;
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth = TESTER_ADC_PULSE_EXPETCED_WIDTH;
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_CalibrValue = ADC_VALUE_CALIBR;
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_ZeroValue = ADC_VALUE_ZERO;
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr = ADC_U_CALIBR;