#3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП
Теперь это считается в TESTER_Reconnect_TwoPhases: Если дедтайм меньше 100мкс, сначала начинает считывание АЦП, а потом переключаем ключи. Потому что функция запуска АЦП занимает 30мкс и в таком случае она будет сильно увеличивать заданный дедтайм. Иначе сначала диод отключается от всего, выжидается дедтайм, потом запускается АЦП и включается в обратном направлении. В таком порядке потому что запуск АЦП должен быть рядом с включем диода в обратном направлении, чтобы словить пик в буффере АЦП
This commit is contained in:
@@ -212,6 +212,11 @@
|
||||
<WinNumber>2</WinNumber>
|
||||
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
|
||||
</Ww>
|
||||
<Ww>
|
||||
<count>6</count>
|
||||
<WinNumber>2</WinNumber>
|
||||
<ItemText>\\diode_tester\../Core/Tester_main/tester_main.c\TESTER</ItemText>
|
||||
</Ww>
|
||||
</WatchWindow2>
|
||||
<Tracepoint>
|
||||
<THDelay>0</THDelay>
|
||||
|
||||
Reference in New Issue
Block a user