#3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП

Теперь это считается в TESTER_Reconnect_TwoPhases:
Если дедтайм меньше 100мкс, сначала начинает считывание АЦП, а потом переключаем ключи. Потому что функция запуска АЦП занимает 30мкс и в таком случае она будет сильно увеличивать заданный дедтайм.
Иначе сначала диод отключается от всего, выжидается дедтайм, потом запускается АЦП и включается в обратном направлении. В таком порядке потому что запуск АЦП должен быть рядом с включем диода в обратном направлении, чтобы словить пик в буффере АЦП
This commit is contained in:
2024-12-23 15:30:35 +03:00
parent 0cba8cda8a
commit 15774d179b
7 changed files with 83 additions and 18 deletions

View File

@@ -212,6 +212,11 @@
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>6</count>
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>\\diode_tester\../Core/Tester_main/tester_main.c\TESTER</ItemText>
</Ww>
</WatchWindow2>
<Tracepoint>
<THDelay>0</THDelay>