#3 Сделаны улучшенные функции управления ключами, добавлены настройки по таймингам в tester_config.h

По переключениям:
-Теперь для двух ключей одного питания должен быть один порт

- Добавлена функция реконнекта питания TESTER_Reconnect_Power(), чтобы быстрее переключать с положительного на отрицательный. А не через отдельные функции TESTER_Disconnect_Power(), TESTER_Connect_Power()

- Сделан дефайн USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS для испольщования HAL GPIO функций. Его можно убрать и пины будуте переключаться напрямую через BSRR.

- Также сделан дефайн ALL_SW_USE_SAME_PORT, чтобы переключать все 4 пина в BSRR в одну комманду

Это поможет в случае функции реконнекта, где HAL функции сначала отключают питание, а потом подключат другое. Из-за этого появляются задержки в 580 мкс (SW Timings with HAL GPIO write.sal),

Если убрать USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то сократиться время переключения между питаниями до 160мкс (SW Timings without HAL GPIO write and different ports.sal)

А если еще выставить ALL_SW_USE_SAME_PORT, то через BSRR будет выставлятся все 4 пина, и задержек нет (SW Timings without HAL GPIO write.sal). Ну почти, иногда проскакивают 2 мкс (SW Timings without HAL GPIO write 2.sal)

diode_tester/Core/Src/gpio.c

@@ -48,10 +48,14 @@ void MX_GPIO_Init(void)
   __HAL_RCC_GPIOC_CLK_ENABLE();
   __HAL_RCC_GPIOD_CLK_ENABLE();
   __HAL_RCC_GPIOA_CLK_ENABLE();
+  __HAL_RCC_GPIOB_CLK_ENABLE();
 
   /*Configure GPIO pin Output Level */
   HAL_GPIO_WritePin(GPIOC, GPIO_PIN_13, GPIO_PIN_RESET);
 
+  /*Configure GPIO pin Output Level */
+  HAL_GPIO_WritePin(GPIOB, GPIO_PIN_0|GPIO_PIN_1|GPIO_PIN_10|GPIO_PIN_11, GPIO_PIN_RESET);
+
   /*Configure GPIO pin : PC13 */
   GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_13;
   GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_OUTPUT_PP;
@@ -59,6 +63,13 @@ void MX_GPIO_Init(void)
   GPIO_InitStruct.Speed = GPIO_SPEED_FREQ_LOW;
   HAL_GPIO_Init(GPIOC, &GPIO_InitStruct);
 
+  /*Configure GPIO pins : PB0 PB1 PB10 PB11 */
+  GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_0|GPIO_PIN_1|GPIO_PIN_10|GPIO_PIN_11;
+  GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_OUTPUT_PP;
+  GPIO_InitStruct.Pull = GPIO_NOPULL;
+  GPIO_InitStruct.Speed = GPIO_SPEED_FREQ_LOW;
+  HAL_GPIO_Init(GPIOB, &GPIO_InitStruct);
+
 }
 
 /* USER CODE BEGIN 2 */

diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h

@@ -11,8 +11,50 @@
 #ifndef _TESTER_CONFIG_H_
 #define _TESTER_CONFIG_H_
 
+
 #define TESTER_PULES_EXPETCED_WIDTH   4   ///< Предполагаемая длительность пика в отчетах ацп
 
+/** 
+	* @addtogroup TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG   Configs for switching timings
+	* @ingroup 		TESTER_CONFIGS
+  * @brief      Конфигурации таймингов для ключей питания
+	@{
+	*/
+
+/**
+  * @brief    Задержка (миллисекундная) для положительного напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
+  * @details  Пока только миллисекунды, т.к. меньше я пока не реализовал, да и как понимаю не требуется
+  */
+#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE              1000
+
+/**
+  * @brief    Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
+  * @details  Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
+  */
+#define DEF_TIME_BEFORE_TEST                  500
+#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY         1         ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
+
+/**
+  * @brief    Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
+  * @details  Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП. 
+  *
+  *           Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY  
+  * @note     Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП.
+  *           Поэтому желательно только тики for() (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
+  */
+#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK                  5
+#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY         0         ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK(0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
+
+/**
+  * @brief    Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
+  * @details  Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
+  */
+#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT            50
+#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY   1         ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT (0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
+
+/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
+  * @}
+  */
 
 /** 
 	* @addtogroup TESTER_POWER_SW_CONFIG   Configs for switches for power
@@ -20,23 +62,23 @@
   * @brief      Конфигурации для ключей питания
 	@{
 	*/
+//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS  ///< Использовать для переключения пинов HAL функции
+//#define  ALL_SW_USE_SAME_PORT ///< Дефайн указывающий что все пины будут иметь один порт (для ускорения переключения)
   
 /* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
 #define POWER_CONNECT       1   ///< Питание подключено в данном состоянии пина
 #define POWER_DISCONNECT    0   ///< Питание отключено в данном состоянии пина
 
 /* Ключи для подключения положительного питания к диоду */
-#define SWITCH_DC_POSITIVE_1_Port   GPIOC         ///< Порт пина первого ключа для положительного питания
+#define SWITCH_DC_POSITIVE_Port       GPIOB         ///< Порт пина первого ключа для земли положительного источника питания
-#define SWITCH_DC_POSITIVE_1_Pin    GPIO_PIN_13   ///< Пин первого ключа для положительного питания
+#define SWITCH_DC_POSITIVE_GND_Pin    GPIO_PIN_10   ///< Пин первого ключа для земли положительного источника питания
-#define SWITCH_DC_POSITIVE_2_Port   GPIOA         ///< Порт пина второго ключа для положительного питания
+#define SWITCH_DC_POSITIVE_VDD_Pin    GPIO_PIN_11   ///< Пин второго ключа для напряжения положительного источника ппитания
-#define SWITCH_DC_POSITIVE_2_Pin    GPIO_PIN_11   ///< Пин второго ключа для положительного питания
 
 
 /* Ключи для подключения отрицательного питания к диоду */
-#define SWITCH_DC_NEGATIVE_1_Port   GPIOC         ///< Порт пина первого ключа для отрицательного питания
+#define SWITCH_DC_NEGATIVE_Port       GPIOB         ///< Порт пина первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
-#define SWITCH_DC_NEGATIVE_1_Pin    GPIO_PIN_13   ///< Пин первого ключа для отрицательного питания
+#define SWITCH_DC_NEGATIVE_GND_Pin    GPIO_PIN_0    ///< Пин первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
-#define SWITCH_DC_NEGATIVE_2_Port   GPIOA         ///< Порт пина второго ключа для отрицательного питания
+#define SWITCH_DC_NEGATIVE_VDD_Pin    GPIO_PIN_1    ///< Пин первого ключа для напряжения отрицательного источника ппитания
-#define SWITCH_DC_NEGATIVE_2_Pin    GPIO_PIN_11   ///< Пин первого ключа для отрицательного питания
 
 /** TESTER_POWER_SW_CONFIG
   * @}

diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c

@@ -7,20 +7,35 @@ TESTER_TestHandleTypeDef hTestDiode;
   */
 void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 {
+  /* Настройка структуры АЦП */
   htest->adc = &tester_adc;  
-  
   TESTER_ADC_StructInit(htest->adc);
   
-  htest->DCNegSw.SW1_Port = SWITCH_DC_NEGATIVE_1_Port;
+  /* Настройка пинов для подключения отрицательного источника */
-  htest->DCNegSw.SW2_Port = SWITCH_DC_NEGATIVE_2_Port;
+  htest->DCNegSw.SW_Port    = SWITCH_DC_NEGATIVE_Port;
-  htest->DCNegSw.SW1_Pin  = SWITCH_DC_NEGATIVE_1_Pin;
+  htest->DCNegSw.SwGND_Pin  = SWITCH_DC_NEGATIVE_GND_Pin;
-  htest->DCNegSw.SW2_Pin  = SWITCH_DC_NEGATIVE_2_Pin;
+  htest->DCNegSw.SwVDD_Pin  = SWITCH_DC_NEGATIVE_VDD_Pin;
+  
+  /* Настройка пинов для подключения положительного источника */
+  htest->DCPosSw.SW_Port    = SWITCH_DC_POSITIVE_Port;
+  htest->DCPosSw.SwGND_Pin  = SWITCH_DC_POSITIVE_GND_Pin;
+  htest->DCPosSw.SwVDD_Pin  = SWITCH_DC_POSITIVE_VDD_Pin;
   
   
-  htest->DCPosSw.SW1_Port = SWITCH_DC_POSITIVE_1_Port;
+  /* Настройка таймингов по умолчанию для тестирования */
-  htest->DCPosSw.SW2_Port = SWITCH_DC_POSITIVE_2_Port;
+  htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE;
-  htest->DCPosSw.SW1_Pin  = SWITCH_DC_POSITIVE_1_Pin;
+  
-  htest->DCPosSw.SW2_Pin  = SWITCH_DC_POSITIVE_2_Pin;
+  htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.ticks = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT;
+  htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.msdelay = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY;
+  
+  htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.ticks = DEF_TIME_BEFORE_PEAK;
+  htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.msdelay = DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY;
+  
+  htest->SwTimings.ticks_before_test.ticks = DEF_TIME_BEFORE_TEST;
+  htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY;
+  
+  
+  htest->continuous_buff_size = 20;
 }
 
 
@@ -109,8 +124,7 @@ void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak);
   
   /* Отключение питания от диода */
-  TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCPosSw);
+  TESTER_Reconnect_Power(&htest->DCPosSw, &htest->DCNegSw);
-  TESTER_Connect_Power(&htest->DCNegSw);
   
   /* Подключение отрицательного питания на определенное время */
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
@@ -128,18 +142,62 @@ void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   */
 void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
 {
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW1_Port, DCSw->SW1_Pin, POWER_CONNECT);
+#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW2_Port, DCSw->SW2_Pin, POWER_CONNECT);
+  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
+#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS  
+  #if (POWER_CONNECT == 1)
+    DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
+  #else //POWER_CONNECT == 1
+    DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
+  #endif //POWER_CONNECT == 1
+#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
 }
 /**
   * @brief    Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
   */
 void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
 {
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW1_Port, DCSw->SW1_Pin, POWER_DISCONNECT);
+#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW2_Port, DCSw->SW2_Pin, POWER_DISCONNECT);
+  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
+#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  #if (POWER_DISCONNECT == 0)
+    DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
+  #else //POWER_CONNECT == 1
+    DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
+  #endif //POWER_CONNECT == 1
+#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
 }
 
+/**
+* @brief    Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
+  */
+void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw)
+{
+#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  HAL_GPIO_WritePin(DCPosSw->SW_Port, DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
+  HAL_GPIO_WritePin(DCNegSw->SW_Port, DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
+#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  #ifdef ALL_SW_USE_SAME_PORT
+    #if (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
+      DCPosSw->SW_Port->BSRR = ((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) | ((DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16));
+    #elif (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
+      DCPosSw->SW_Port->BSRR = (((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16)| (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin));
+    #endif //POWER_CONNECT && POWER_DISCONNECT
+  #else //ALL_SW_USE_SAME_PORT  
+    #if (POWER_DISCONNECT == 0)
+      DCPosSw->SW_Port->BSRR = (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16;
+    #else //POWER_DISCONNECT == 1
+      DCPosSw->SW_Port->BSRR = DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin;
+    #endif //POWER_DISCONNECT
+  
+    #if (POWER_CONNECT == 1)
+      DCNegSw->SW_Port->BSRR = DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin;
+    #else //POWER_CONNECT == 0
+      DCNegSw->SW_Port->BSRR = (DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16;
+    #endif //POWER_CONNECT
+  #endif //ALL_SW_USE_SAME_PORT
+#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+}
 /**
   * @brief    Формирование задержки (в тиках или миллисекундная)
   */

diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h

@@ -19,11 +19,9 @@
   */
 typedef struct
 {
-  GPIO_TypeDef *SW1_Port;   ///< Порт пина первого ключа для питания
+  GPIO_TypeDef *SW_Port;      ///< Порт первого ключа для питания
-  uint32_t      SW1_Pin;    ///< Пин первого ключа для питания
+  uint32_t      SwGND_Pin;    ///< Пин первого ключа для питания
-  
+  uint32_t      SwVDD_Pin;    ///< Пин второго ключа для питания
-  GPIO_TypeDef *SW2_Port;   ///< Порт пина второго ключа для питания
-  uint32_t      SW2_Pin;    ///< Пин второго ключа для питания
 }TESTER_PowerSwitchTypeDef;
 
 
@@ -43,8 +41,8 @@ typedef struct
 {
   uint32_t                  msticks_for_positive_dc;    ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_PositivePower
   TESTER_TicksDelayTypeDef  ticks_before_test;          ///< задержка перед началом тестирования (мс или тики for())
-  TESTER_TicksDelayTypeDef  ticks_before_disconnect;    ///< задержка перед выключением питания (мс или тики for())
   TESTER_TicksDelayTypeDef  ticks_before_go_to_peak;    ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или тики for())
+  TESTER_TicksDelayTypeDef  ticks_before_disconnect;    ///< задержка перед выключением питания (мс или тики for())
 }TESTER_SwitchTimingsTypeDef;
 
 /**
@@ -81,6 +79,8 @@ void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
 void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
 /* Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
 void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
+/* Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
+void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw);
 /* Формирование задержки перед подключением питания (в тиках или миллисекундная) */
 void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay);
 #endif //_TESTER_FUNC_H_

diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c

@@ -10,9 +10,9 @@ TESTER_ProjectTypeDef TESTER;
 void TESTER_Init(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
 {
   tester->delay = 250;
-  tester->delay_en = 1;
+  tester->delay_en = 0;
   
-  tester->func.disable_reset_call = 1;
+  tester->func.disable_reset_call = 0;
   tester->htest = &hTestDiode;
   TESTER_HandleInit(tester->htest);
 }

diode_tester/diode_tester.ioc

@@ -39,16 +39,20 @@ Mcu.Name=STM32F103C(4-6)Tx
 Mcu.Package=LQFP48
 Mcu.Pin0=PC13-TAMPER-RTC
 Mcu.Pin1=PD0-OSC_IN
-Mcu.Pin10=VP_TIM3_VS_ClockSourceINT
+Mcu.Pin10=PA13
+Mcu.Pin11=PA14
+Mcu.Pin12=VP_SYS_VS_Systick
+Mcu.Pin13=VP_TIM2_VS_ClockSourceINT
+Mcu.Pin14=VP_TIM3_VS_ClockSourceINT
 Mcu.Pin2=PD1-OSC_OUT
 Mcu.Pin3=PA0-WKUP
-Mcu.Pin4=PA9
+Mcu.Pin4=PB0
-Mcu.Pin5=PA10
+Mcu.Pin5=PB1
-Mcu.Pin6=PA13
+Mcu.Pin6=PB10
-Mcu.Pin7=PA14
+Mcu.Pin7=PB11
-Mcu.Pin8=VP_SYS_VS_Systick
+Mcu.Pin8=PA9
-Mcu.Pin9=VP_TIM2_VS_ClockSourceINT
+Mcu.Pin9=PA10
-Mcu.PinsNb=11
+Mcu.PinsNb=15
 Mcu.ThirdPartyNb=0
 Mcu.UserConstants=
 Mcu.UserName=STM32F103C6Tx
@@ -78,6 +82,14 @@ PA14.Mode=Serial_Wire
 PA14.Signal=SYS_JTCK-SWCLK
 PA9.Mode=Asynchronous
 PA9.Signal=USART1_TX
+PB0.Locked=true
+PB0.Signal=GPIO_Output
+PB1.Locked=true
+PB1.Signal=GPIO_Output
+PB10.Locked=true
+PB10.Signal=GPIO_Output
+PB11.Locked=true
+PB11.Signal=GPIO_Output
 PC13-TAMPER-RTC.Locked=true
 PC13-TAMPER-RTC.Signal=GPIO_Output
 PD0-OSC_IN.Mode=HSE-External-Oscillator