Diod_Test/README.md

# Diod_Test

## Управление тестером 
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 `StartTest`. 
Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах:
- 0: `ForwardTest` - тест напряжения при прямом включении
- 1: `ReverseTest` - тест скачка напряжения при обратном включении

Если включены оба, то будет тест скачка напряжения при переходе от прямого подлключения к обратному. 

## Настройка таймингов
Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4:
  - 0: `TimeForForward` - миллисекундная задержка для прямого включения (только миллисекунды)
  - 1: `TimeBeforeTest` - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или микросекундная)
  - 2: `TimeDeadtime` - задержка при переключении с прямого включения в обратное (миллисекундная или микросекундная)
  - 3: `TimeBeforePeak` - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или микросекундная)
  - 4: `TimeBeforeDisconnect` - задержка перед выключением питания (миллисекундная или микросекундная)

В коилах модбас №16-19, можно выставить флаги - использовать миллисекундную задержку вместо микросекундной для соответствующего тайминга:
  - 16: `msTimeBeforeTest_enable`
  - 17: `msTimeDeadtime_enable`
  - 18: `msTimeBeforePeak_enable`
  - 19: `msTimeBeforeDisconnect_enable`

## Настройка АЦП
Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9:
  - 5: `Adc_PulseWidth` - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
  - 6: `Adc_PulseSign` - полярность импульса
  - 7: `Adc_CalibrValue` - калибровочное значение ацп
  - 8: `Adc_ZeroValue` - нулевое значение ацп
  - 9: `Adc_U_Calibr` - калибровочное напряжение ацп

Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`


# Тестирование
## Тест в прямом подключении (`TESTER_TestDiode_Forward`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- включается АЦП в континуес режиме 
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`.
- считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего. и так по кругу пока диод подключен
- после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП

По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt`.

## Тест в обратном подключении (`TESTER_TestDiode_Reverse`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- включается АЦП в дма режиме 
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`, и отключается
- после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе

По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода `htest->DiodeReversePeakVolt`.

## Тест перехода из прямого подключении в обратное (`TESTER_TestDiode_SwitchConnection`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`
- после истечения задержки сохраняется прямое напражение на диоде
- диод отключается от питания и выжидается мертвое время `ticks_deadtime`
- включается АЦП в дма режиме
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`
- дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе

По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt` и скачок при обратном `htest->DiodeReversePeakVolt`.



# Внутренняя настройка
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (`TESTER_Set_Default_Settings`)
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (`TESTER_UpdateSettings`). Она вызывается перед каждым тестом.
## tester_config.h
Содержит дефолтные настройки для таймингов (`TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG`):
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной разных задержек.

для светодиода и кнопки (`TESTER_INTERFACE_CONFIG`):
- состояния пина для включения и выключения светодиода
- порт и пин светодиода
- частоты моргания для разных режимов работы
- состояния пина при нажатой и отжатой кнопки
- порт и пин кнопки
- задержка для выжидания дребезга

для управления ключами (`TESTER_PHASE_SW_CONFIG`):
- `USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS` - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
- `RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME` - отключить дедтайм при переключении. Если отключить еще и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс). Хз надо ли такое, но возможность есть
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)

для АЦП (`TESTER_ADC_CONFIG`):
- размер dma буффера (`ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE`)
- калибровочное напряжение АЦП (`ADC_U_CALIBR`)
- значение АЦП при калибровочном напряжении (`ADC_VALUE_CALIBR`)
- значение АЦП при нулевом напряжении (`ADC_VALUE_ZERO`)
- таймаут на чтение АЦП (`ADC_READ_TIMEOUT_MS`)
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (`TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH`)
Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`

## Структуры для настроек
Настройки для таймингов записываются в структуру `SwTimings`, которая находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.

Настройки светодиода и кнопки записываются в структуры `leds.LED1` и `SwStart`. Они находятся в структуре проекта `TESTER`

Настройки для портов и пинов ключей записываются в структуры `SwPhaseForward` и `SwPhaseReverse`, которые находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.

Настройки для АЦП записыватся в структуру `TESTER.htest->adc->chAdc.s` (`ADC_ParamsTypeDef`).