Diod_Test/diode_tester/Core/Src/main.c

205 lines
5.4 KiB
C
Raw Normal View History

2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE BEGIN Header */
/**
******************************************************************************
* @file : main.c
* @brief : Main program body
******************************************************************************
* @attention
*
* Copyright (c) 2024 STMicroelectronics.
* All rights reserved.
*
* This software is licensed under terms that can be found in the LICENSE file
* in the root directory of this software component.
* If no LICENSE file comes with this software, it is provided AS-IS.
*
******************************************************************************
*/
/* USER CODE END Header */
/* Includes ------------------------------------------------------------------*/
#include "main.h"
#include "adc.h"
#include "dma.h"
#include "tim.h"
#include "usart.h"
2024-12-17 09:42:52 +03:00
#include "gpio.h"
/* Private includes ----------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN Includes */
#include "rs_message.h"
#3 Добавлены файлы для реализации алгоритмов (не все готово) Основные функции по файлам: - tester_adc_func Cодержит функции для управления АЦП и DMA. Для DMA есть хендлер (ADC_DMA_Handler), который перекидывает готовую половину DMA буфера в структуру АЦП Функция ADC_DMA_ReadForPeak стащена с МЗКТЭ и пока просто простаивает и ждет пока буффер заполниться, но можно потом добавить какую-то обрбаотку буфера, пока он еще заполяется. После окончания работы АЦП эта функция находит максимальное зачение и рассчитывает среднее значение в этом "пике" Добавлена функция ADC_ReadContinuous, которая считывает АЦП в континуес режиме, значение запихивает в буффер. Прерывается при таймауте.: - tester_func Cодержит функции для тестирования диодов: в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower), в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower), при переходе от прямого к обратному (TESTER_TestDiode_PosNegPower). Для работы АЦП, вызывает функции из tester_adc_func. Пока всё максимально примитивно, надо будет доработать - tester_main Содержит функции инициализации, подготовка к циклу и главный цикл тестер. По флагам вызываются соответствующие функции тестирования диодов из tester_func. Все функции этого файла вызываются в main.c. -tester_config.h Пока содержит настройки для тестера: пины для ключей, состяония подключенного и отключенного питания, которые подключают питание, настройки для АЦП
2024-12-18 16:12:37 +03:00
#include "tester_main.h"
2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE END Includes */
/* Private typedef -----------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN PTD */
/* USER CODE END PTD */
/* Private define ------------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN PD */
/* USER CODE END PD */
/* Private macro -------------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN PM */
/* USER CODE END PM */
/* Private variables ---------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN PV */
/* USER CODE END PV */
/* Private function prototypes -----------------------------------------------*/
void SystemClock_Config(void);
/* USER CODE BEGIN PFP */
/* USER CODE END PFP */
/* Private user code ---------------------------------------------------------*/
/* USER CODE BEGIN 0 */
int delay = 250;
int delay_en = 1;
int before_pulse_delay = 50;
int pulse_delay = 10;
2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE END 0 */
/**
* @brief The application entry point.
* @retval int
*/
int main(void)
{
/* USER CODE BEGIN 1 */
/* USER CODE END 1 */
/* MCU Configuration--------------------------------------------------------*/
/* Reset of all peripherals, Initializes the Flash interface and the Systick. */
HAL_Init();
/* USER CODE BEGIN Init */
/* USER CODE END Init */
/* Configure the system clock */
SystemClock_Config();
/* USER CODE BEGIN SysInit */
/* USER CODE END SysInit */
/* Initialize all configured peripherals */
MX_GPIO_Init();
MX_DMA_Init();
MX_ADC1_Init();
MX_TIM3_Init();
MX_USART1_UART_Init();
MX_TIM2_Init();
2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE BEGIN 2 */
// HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t *)buff, ADC_BUFF_SIZE);
// HAL_TIM_Base_Start_IT(&htim3);
#3 Добавлены файлы для реализации алгоритмов (не все готово) Основные функции по файлам: - tester_adc_func Cодержит функции для управления АЦП и DMA. Для DMA есть хендлер (ADC_DMA_Handler), который перекидывает готовую половину DMA буфера в структуру АЦП Функция ADC_DMA_ReadForPeak стащена с МЗКТЭ и пока просто простаивает и ждет пока буффер заполниться, но можно потом добавить какую-то обрбаотку буфера, пока он еще заполяется. После окончания работы АЦП эта функция находит максимальное зачение и рассчитывает среднее значение в этом "пике" Добавлена функция ADC_ReadContinuous, которая считывает АЦП в континуес режиме, значение запихивает в буффер. Прерывается при таймауте.: - tester_func Cодержит функции для тестирования диодов: в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower), в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower), при переходе от прямого к обратному (TESTER_TestDiode_PosNegPower). Для работы АЦП, вызывает функции из tester_adc_func. Пока всё максимально примитивно, надо будет доработать - tester_main Содержит функции инициализации, подготовка к циклу и главный цикл тестер. По флагам вызываются соответствующие функции тестирования диодов из tester_func. Все функции этого файла вызываются в main.c. -tester_config.h Пока содержит настройки для тестера: пины для ключей, состяония подключенного и отключенного питания, которые подключают питание, настройки для АЦП
2024-12-18 16:12:37 +03:00
TESTER_Init(&TESTER);
2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE END 2 */
/* Infinite loop */
/* USER CODE BEGIN WHILE */
#3 Добавлены файлы для реализации алгоритмов (не все готово) Основные функции по файлам: - tester_adc_func Cодержит функции для управления АЦП и DMA. Для DMA есть хендлер (ADC_DMA_Handler), который перекидывает готовую половину DMA буфера в структуру АЦП Функция ADC_DMA_ReadForPeak стащена с МЗКТЭ и пока просто простаивает и ждет пока буффер заполниться, но можно потом добавить какую-то обрбаотку буфера, пока он еще заполяется. После окончания работы АЦП эта функция находит максимальное зачение и рассчитывает среднее значение в этом "пике" Добавлена функция ADC_ReadContinuous, которая считывает АЦП в континуес режиме, значение запихивает в буффер. Прерывается при таймауте.: - tester_func Cодержит функции для тестирования диодов: в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower), в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower), при переходе от прямого к обратному (TESTER_TestDiode_PosNegPower). Для работы АЦП, вызывает функции из tester_adc_func. Пока всё максимально примитивно, надо будет доработать - tester_main Содержит функции инициализации, подготовка к циклу и главный цикл тестер. По флагам вызываются соответствующие функции тестирования диодов из tester_func. Все функции этого файла вызываются в main.c. -tester_config.h Пока содержит настройки для тестера: пины для ключей, состяония подключенного и отключенного питания, которые подключают питание, настройки для АЦП
2024-12-18 16:12:37 +03:00
TESTER_pre_while(&TESTER);
2024-12-17 09:42:52 +03:00
while (1)
{
#3 Добавлены файлы для реализации алгоритмов (не все готово) Основные функции по файлам: - tester_adc_func Cодержит функции для управления АЦП и DMA. Для DMA есть хендлер (ADC_DMA_Handler), который перекидывает готовую половину DMA буфера в структуру АЦП Функция ADC_DMA_ReadForPeak стащена с МЗКТЭ и пока просто простаивает и ждет пока буффер заполниться, но можно потом добавить какую-то обрбаотку буфера, пока он еще заполяется. После окончания работы АЦП эта функция находит максимальное зачение и рассчитывает среднее значение в этом "пике" Добавлена функция ADC_ReadContinuous, которая считывает АЦП в континуес режиме, значение запихивает в буффер. Прерывается при таймауте.: - tester_func Cодержит функции для тестирования диодов: в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower), в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower), при переходе от прямого к обратному (TESTER_TestDiode_PosNegPower). Для работы АЦП, вызывает функции из tester_adc_func. Пока всё максимально примитивно, надо будет доработать - tester_main Содержит функции инициализации, подготовка к циклу и главный цикл тестер. По флагам вызываются соответствующие функции тестирования диодов из tester_func. Все функции этого файла вызываются в main.c. -tester_config.h Пока содержит настройки для тестера: пины для ключей, состяония подключенного и отключенного питания, которые подключают питание, настройки для АЦП
2024-12-18 16:12:37 +03:00
TESTER_main_delay(&TESTER);
TESTER_main_while(&TESTER);
2024-12-17 09:42:52 +03:00
/* USER CODE END WHILE */
/* USER CODE BEGIN 3 */
}
/* USER CODE END 3 */
}
/**
* @brief System Clock Configuration
* @retval None
*/
void SystemClock_Config(void)
{
RCC_OscInitTypeDef RCC_OscInitStruct = {0};
RCC_ClkInitTypeDef RCC_ClkInitStruct = {0};
RCC_PeriphCLKInitTypeDef PeriphClkInit = {0};
/** Initializes the RCC Oscillators according to the specified parameters
* in the RCC_OscInitTypeDef structure.
*/
RCC_OscInitStruct.OscillatorType = RCC_OSCILLATORTYPE_HSE;
RCC_OscInitStruct.HSEState = RCC_HSE_ON;
RCC_OscInitStruct.HSEPredivValue = RCC_HSE_PREDIV_DIV1;
RCC_OscInitStruct.HSIState = RCC_HSI_ON;
RCC_OscInitStruct.PLL.PLLState = RCC_PLL_ON;
RCC_OscInitStruct.PLL.PLLSource = RCC_PLLSOURCE_HSE;
RCC_OscInitStruct.PLL.PLLMUL = RCC_PLL_MUL9;
if (HAL_RCC_OscConfig(&RCC_OscInitStruct) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
/** Initializes the CPU, AHB and APB buses clocks
*/
RCC_ClkInitStruct.ClockType = RCC_CLOCKTYPE_HCLK|RCC_CLOCKTYPE_SYSCLK
|RCC_CLOCKTYPE_PCLK1|RCC_CLOCKTYPE_PCLK2;
RCC_ClkInitStruct.SYSCLKSource = RCC_SYSCLKSOURCE_PLLCLK;
RCC_ClkInitStruct.AHBCLKDivider = RCC_SYSCLK_DIV1;
RCC_ClkInitStruct.APB1CLKDivider = RCC_HCLK_DIV2;
RCC_ClkInitStruct.APB2CLKDivider = RCC_HCLK_DIV1;
if (HAL_RCC_ClockConfig(&RCC_ClkInitStruct, FLASH_LATENCY_2) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
PeriphClkInit.PeriphClockSelection = RCC_PERIPHCLK_ADC;
PeriphClkInit.AdcClockSelection = RCC_ADCPCLK2_DIV6;
if (HAL_RCCEx_PeriphCLKConfig(&PeriphClkInit) != HAL_OK)
{
Error_Handler();
}
}
/* USER CODE BEGIN 4 */
/* USER CODE END 4 */
/**
* @brief This function is executed in case of error occurrence.
* @retval None
*/
void Error_Handler(void)
{
/* USER CODE BEGIN Error_Handler_Debug */
/* User can add his own implementation to report the HAL error return state */
__disable_irq();
while (1)
{
}
/* USER CODE END Error_Handler_Debug */
}
#ifdef USE_FULL_ASSERT
/**
* @brief Reports the name of the source file and the source line number
* where the assert_param error has occurred.
* @param file: pointer to the source file name
* @param line: assert_param error line source number
* @retval None
*/
void assert_failed(uint8_t *file, uint32_t line)
{
/* USER CODE BEGIN 6 */
/* User can add his own implementation to report the file name and line number,
ex: printf("Wrong parameters value: file %s on line %d\r\n", file, line) */
/* USER CODE END 6 */
}
#endif /* USE_FULL_ASSERT */